全球首臺(tái)PP-TOFMS落戶(hù)于西班牙光譜分析實(shí)驗(yàn)室
發(fā)布日期：2014-12-23 瀏覽次數(shù)：1394
奧維爾多大學(xué)光譜分析實(shí)驗(yàn)室的A. Sanz Medel與R.Pereiro教授等材料科學(xué)家涉及的研奧維爾多大學(xué)光譜分析實(shí)驗(yàn)室究領(lǐng)域非常廣泛，包括太陽(yáng)能光伏電池、玻璃鍍層等。2014年9月，他們?cè)趯?shí)驗(yàn)室中成功安裝了全球首臺(tái)等離子體分析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（PP-TOFMS），希望通過(guò)它來(lái)進(jìn)行基材和鍍層的污染及稀土元素分析。
PP-TOFMS是HORIBA Scientific (Jobin Yvon光譜技術(shù)) 在 2012年推出的一款產(chǎn)品，它誕生于歐盟項(xiàng)目“EMDPA”，在項(xiàng)目進(jìn)展過(guò)程中，HORIBA Scientific與來(lái)自7個(gè)國(guó)家的材料科學(xué)家進(jìn)行了反復(fù)的論證與實(shí)驗(yàn)，最終由專(zhuān)業(yè)的輝光放電質(zhì)譜（GD-MS）研究團(tuán)隊(duì)設(shè)計(jì)而成。
帶您認(rèn)識(shí)等離子體分析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（PP-TOFMS）
PP-TOFMS是一款集輝光放電和飛行時(shí)間質(zhì)譜優(yōu)勢(shì)為一體的新型分析設(shè)備，可極大地推進(jìn)鍍層樣品的分析進(jìn)程。
高分辨率、高靈敏度下，可快速完成深度剖析
PP-TOFMS結(jié)合了輝光放電等離子體的濺射速度和時(shí)間飛行質(zhì)譜的快速及高靈敏度，可以實(shí)現(xiàn)高分辨率和高靈敏度條件下固體材料的快速化學(xué)深度剖析。
擅長(zhǎng)分析各類(lèi)鍍層樣品，獲取元素、分子等信息
PP-TOFMS適用于導(dǎo)體、半導(dǎo)體、非導(dǎo)體各類(lèi)材料及鍍層分析，每30微秒即可獲得H到U元素的完整質(zhì)譜和分子信息，包括同位素。在獲得固體樣品的元素信息的同時(shí)，PP-TOFMS還可以獲得同位素及分子的分布信息。在整個(gè)分析過(guò)程中，樣品無(wú)需預(yù)處理，設(shè)備無(wú)需超高真空腔，操作簡(jiǎn)單而快速。
主要應(yīng)用領(lǐng)域：
· 摻雜分析（半導(dǎo)體、光電子、太陽(yáng)能光伏、傳感器、固態(tài)電源）
· 表面和整體污染鑒定（PVD鍍層、摩擦層、電氣鍍層、光學(xué)鍍層、磁性鍍層）
· 腐蝕科學(xué)和技術(shù)（示蹤物、標(biāo)記監(jiān)測(cè)、同位素標(biāo)記）
· 界面監(jiān)測(cè)等
應(yīng)用實(shí)例——如何對(duì)稀土元素進(jìn)行深度剖析？
PP-TOFMS非常適用于稀土元素的檢出，下圖為氧化鋅薄膜的深度剖析。未使用校準(zhǔn)曲線，通過(guò)離子束比可直接獲得稀土元素Eu和Tb隨深度的原子百分比變化。
PP-TOFMS的深度分辨率達(dá)1 nm，可有效地將薄鍍層中元素隨深度的變化表征出來(lái)。并可獲得任何深度的全質(zhì)譜。
數(shù)據(jù)采集分析軟件設(shè)計(jì)得非常人性化，可清晰直觀呈現(xiàn)所有數(shù)據(jù)，以便快速掌控信息。
官網(wǎng)：http://www.h5368.cn
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